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1、问答题 若只含碳氢两种元素的一种不饱和有机物有三个双键,如何用一种光谱来确定其双键可能的排列类型?
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本题答案:三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况,其紫外光
本题解析:试题答案三个双键共轭、两个共轭和三个双键孤立三种状况,其紫外光谱吸收蜂分别在177nm,210-230nm,260nm,由于三类物质紫外吸收峰存在很大差别,容易确定其实际的双键排列类型。
2、单项选择题 中心暗场像的成像操作方法是()。
A.以物镜光栏套住透射斑;
B.以物镜光栏套住衍射斑;
C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
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本题答案:C
本题解析:暂无解析
3、问答题 什么是双 光束衍射?电子衍衬分析时,为什么要求在近似双光束条件下进行?
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本题答案:双光束衍射:倾转样品,使晶体中只有一个晶面满足Bragg条件
本题解析:试题答案双光束衍射:倾转样品,使晶体中只有一个晶面满足Bragg条件,从而产生衍射,其它晶面 均远离Bragg位置,衍射花样中几乎只存在大的透射斑点和一个强衍射斑点。原因:在近似双光束条件下,产生强衍射,有利于对样品的分析
4、问答题 陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制,为什么?
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本题答案:陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品,也可采用红
本题解析:试题答案陶瓷纳米/微米颗粒与KBr压片制备测试样品,也可采用红外光谱的反射式测试方法直接测试粉状样品。
5、问答题 球差、像散和色差是怎样造成的?如何减小这些像差?哪些是可消除的像差?
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本题答案:1,球差是由于电磁透镜磁场的近轴区与远轴区对电子束的会
本题解析:试题答案1,球差是由于电磁透镜磁场的近轴区与远轴区对电子束的会聚能力的不同而造成的。一个物点散射的电子束经过具有球差的电磁透镜后并不聚在一点,所以像平面上得到一个弥散圆斑,在某一位置可获得最小的弥散圆斑,成为弥散圆。还原到物平面上,则半径为
rs=1/4Csα3
rs为半径,Cs为透镜的球差系数,α为透镜的孔径半角。所以见效透镜的孔径半角可减少球差。
2,色差是由于成像电子的波长(能量)不同而引起的。一个物点散射的具有不同波长的电子,进入透镜磁场后将沿各自的轨道运动,结果不能聚焦在一个像点上,而分别交在一定的轴向范围内,形成最小色差弥散圆斑,半径为rc=Ccα|△E/E|
Cc为透镜色差系数,α为透镜孔径半角,△E/E为成像电子束能量变化率。所以减小△E/E、α可减小色差。
3,像散是由于透镜磁场不是理想的旋对称磁场而引起的。可减小孔径半角来减少像散。
6、单项选择题 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
来源:91考试网 91Exam.org A.Cu;
B.Fe;
C.Ni;
D.Mo。
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本题答案 :C
本题解析:暂无解析
7、问答题 欠焦量和样品厚度对相位衬度有何影响?
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本题答案:欠焦量是影响相位衬度的关键因素,只有在最佳欠焦量下(满
本题解析:试题答案欠焦量是影响相位衬度的关键因素,只有在最佳欠焦量下(满足谢尔策欠焦条件)才能获得高相位衬度;样品厚度也是影响相位衬度的重要因素,随样品厚度增加,透射波和衍射波的振幅、相位随之而变,成像机制也发生改变,逐渐由相位衬度转变为振幅衬度。
8、问答题 解释红外光谱图的一般程序是什么?
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本题答案:运用红外光谱解谱的四要素,分析吸收峰对应的基团;若是单纯物质
本题解析:试题答案运用红外光谱解谱的四要素,分析吸收峰对应的基团;若是单纯物质可对照SADLTER标准图谱;还可从数据库查相应发表文献的红外光谱信息。
9、单项选择题 物镜光阑安放在()
A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
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本题答案:C
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10、问答题 如何进行紫外光谱的定量分析?
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本题答案:首先确定定量时的紫外吸收峰波长,然后需要配制一系列不同
本题解析:试题答案首先确定定量时的紫外吸收峰波长,然后需要配制一系列不同浓度的标准溶液并测定其吸光度数据,获得工作曲线。测试待测样品获得吸光度数据,对比工作曲线计算得到待测样品的浓度。
11、单项选择题 透射电镜中电子枪的作用是()
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案:A
本题解析:暂无解析
12、问答题 谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么?该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题?
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本题答案:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线
本题解析:试题答案B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ为表示选用X射线位置
①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm时,它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm,即100纳米以下晶粒的粒径。因此,它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高,但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。
②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末,但实际上理想的晶体是不存在的,即使是较大的晶体,它经常也具有镶嵌结构在,即是由一些大小约在10-4cm嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。
13、问答题 样品台的结构与功能如何?它应满足哪些要求?
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本题答案:样品台的作用是承载样品,并使样品能作平移、倾斜、旋转,
本题解析:试题答案样品台的作用是承载样品,并使样品能作平移、倾斜、旋转,以选择感兴趣的样品区域或位向进行观察分析。透射电镜的样品台是放置在物镜的上下极靴之间,由于这里的空间很小,所以透射电镜的样品台很小,通常是直径3mm的薄片。
对样品台的要求非常严格。首先必须使样品台牢固地夹持在样品座中并保持良好的热,电接触,减小因电子散射引起的热或电荷堆积而产生样品的损伤或图像漂移。平移是任何样品的最基本的动作,通常在2个相互垂直方向上样品平移最大值为±1mm,以确保样品上大部分区域都能观察到,样品平移机构要有足够的机械密度,无效行程应尽可能小。总而言之,在照相暴光期间样品图像漂移量应相应情况下的显微镜的分辨率。
14、单项选择题 当t=5s/2时,衍射强度为()。
A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
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本题答案:D
本题解析:暂无解析
15、单项选择题 电子衍射成像时是将()。
A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;
B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;
C.关闭中间镜;
D.关闭物镜。
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本题答案:A
本题解析:暂无解析
16、名词解释 电子透镜
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本题答案:能使电子束聚焦的装置。
本题解析:试题答案能使电子束聚焦的装置。
17、名词解释 吸收电子
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本题答案:入射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量损失殆尽(假
本题解析:试题答案入射电子进入样品后,经多次非弹性散射,能量损失殆尽(假定样品有足够厚度,没有透射电子产生),最后被样品吸收。吸收电流像可以反映原子序数衬度,同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
18、问答题 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
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本题答案:二次电子像:
1)凸出的尖棱,小粒子以及比较
本题解析:试题答案二次电子像:
1)凸出的尖棱,小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大。
2)平面上的SE产额较小,亮度较低。
3)在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其不易被控制到,因此相应衬度也较暗。
背散射电子像:
1)用BE进行形貌分析时,其分辨率远比SE像低。
2)BE能量高,以直线轨迹逸出样品表面,对于背向检测器的样品表面,因检测器无法收集到BE而变成一片阴影,因此,其图象衬度很强,衬度太大会失去细节的层次,不利于分析。因此,BE形貌分析效果远不及SE,故一般不用BE信号。
19、问答题 电子衍射与X射线衍射有那些区别?可否认为有了电子衍射分析手段,X射线衍射方法就可有可无了?
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本题答案:电子衍射与X射线衍射一样,遵从衍射产生的必要条件和系统
本题解析:试题答案电子衍射与X射线衍射一样,遵从衍射产生的必要条件和系统消光规律,但电子是物质波,因而电子衍射与X射线衍射相比,又有自身的特点:
(1)电子波波长很短,一般只有千分之几nm,而衍射用X射线波长约在十分之几到百分之几nm,按布拉格方程2dsinθ=λ可知,电子衍射的2θ角很小,即入射电子和衍射电子束都近乎平行于衍射晶面;
(2)由于物质对电子的散射作用很强,因而电子束穿透物质的能力大大减弱,故电子只适于材料表层或薄膜样品的结构分析;
(3)透射电子显微镜上配置选区电子衍射装置,使得薄膜样品的结构分析与形貌有机结合起来,这是X射线衍射无法比拟的特点。
但是,X射线衍射方法并非可有可无,这是因为:X射线的透射能力比较强,辐射厚度也比较深,约为几um到几十um,并且它的衍射角比较大,这些特点都使X射线衍射适宜于固态晶体的深层度分析。
20、问答题 叙述如何用X射线进行物相分析及注意事项。
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本题答案:所谓X射线物相分析即通过X射线衍射分析来确定材料的物相
本题解析:试题答案所谓X射线物相分析即通过X射线衍射分析来确定材料的物相构成。
1.根据待测相的衍射数据得出三强线的晶面间距值d1,d2和d3(并估计误差)
2.根据最强线的面间距d1在数字索引中找到所属组,再在d2,d3找到其中一行。
3.比较此行中的三条线,看其相对强度是否与被测物质三强线基本一致。如d和I\I1
4.基本一致,则可初步断定之。
5.根据索引中查找的卡片号,从卡片盒中找到所需要卡片。
6.将卡片全部d和I\I1与未知物质的d和I\I1对比,如果完全吻合,则卡片上物质即为所测物质。
若多相,则采用逐一排除法,即标出一种物相后就从衍射谱中除去它的衍射线条,剩下的进行归一化后再进行物相确定,直至所有衍射线条全部标定为止。
注意事项:
1.利用计算机是行之有效的方法。
2.试样衍射花样的误差和卡片的误差
3.晶面间距d比相对强度重要。
4.多相混合物的衍射线条有可能重叠,应配合其他方法加以区分。
21、单项选择题 PDF卡片中,数据最可靠的用()表示
A、i
B、★
C、○
D、C
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本题答案:B
本题解析:暂无解析
22、名词解释 消光距离ξg
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本题答案:晶体内透射波与衍射波动力学相互作用,使其强度在晶体深度
本题解析:试题答案晶体内透射波与衍射波动力学相互作用,使其强度在晶体深度方向上发生周期性振荡,振荡的深度周期叫消光距离。
23、问答题 试简要总结由分析简单点阵到复杂点阵衍射强度的整个思路和要点。
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本题答案:在进行晶体结构分析时,重要的是把握两类信息,第一类是衍
本题解析:试题答案在进行晶体结构分析时,重要的是把握两类信息,第一类是衍射方向,即θ角,它在λ一定的情况下取决于晶面间距d。衍射方向反映了晶胞的大小和形状因素,可以利用布拉格方程来描述。第二类为衍射强度,它反映的是原子种类及其在晶胞中的位置。
简单点阵只由一种原子组成,每个晶胞只有一个原子,它分布在晶胞的顶角上,单位晶胞的散射强度相当于一个原子的散射强度。复杂点阵晶胞中含有n个相同或不同种类的原子,它们除占据单胞的顶角外,还可能出现在体心、面心或其他位置。
复杂点阵的衍射波振幅应为单胞中各原子的散射振幅的合成。由于衍射线的相互干涉,某些方向的强度将会加强,而某些方向的强度将会减弱甚至消失。这样就推导出复杂点阵的衍射规律——称为系统消光(或结构消光)。
24、名词解释 伸缩振动
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本题答案:键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸
本题解析:试题答案键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
25、问答题 Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?
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本题答案:波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,反映了物
本题解析:试题答案波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,反映了物质运动的连续性;微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量,能量和动量,反映了物质运动的分立性。
26、问答题 二次电子像景深很大,样品凹坑底部都能清楚地显示出来,从而使图像的立体感很强,其原因何在?
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本题答案:二次电子像立体感很强这是因为
1)凸出的尖棱,小
本题解析:试题答案二次电子像立体感很强这是因为
1)凸出的尖棱,小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大。
2)平面上的SE产额较小,亮度较低。
3)在深的凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其不易被控制到,因此相应衬度也较暗。
27、单项选择题 测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是()。
A.外标法;
B.内标法;
C.直接比较法;
D.K值法。
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本题答案:C
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28、单项选择题 洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是()
A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
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本题答案:A
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29、单项选择题 透射电镜中聚光镜的作用是()
A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像
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本题答案:B
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30、问答题 含苯环的红外谱图中,吸收峰可能出现在哪4个波数范围?
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本题答案:3000-3100cm-1;1660-2000cm-1
本题解析:试题答案3000-3100cm-1;1660-2000cm-1;1450-1600cm-1;650-900cm-1
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★材料科学》题库
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材料科学:材料分析测试技术》题库,
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